Chroma ATE presenta tecnología de prueba avanzada para impulsar la revolución de la IA en SEMICON Taiwán 2023

Sep 17, 2023

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30 de agosto de 2023, 07:00 CST

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TAOYUAN, 30 de agosto de 2023 /PRNewswire/ -- Chroma ATE Inc., un proveedor líder de equipos de prueba automatizados, participa en SEMICON Taiwán 2023. La compañía exhibirá una serie de soluciones de prueba innovadoras con un enfoque en la inteligencia artificial (IA ), informática de alto rendimiento (HPC), automoción y aplicaciones AIoT, con el objetivo de satisfacer las necesidades en constante evolución de las pruebas de semiconductores.

Soluciones avanzadas de pruebas de SoC/analógicas

El sistema de prueba analógico/SoC Chroma 3650-S2 es una plataforma de prueba de circuitos integrados de potencia de alto rendimiento que satisface las necesidades de los circuitos integrados de potencia de control digital complejos, de alto voltaje y alta corriente actuales. Viene equipado con hasta 768 E/S digitales y pines analógicos con una capacidad de suministro de energía de hasta 3000 V o 320 A, con una velocidad de datos de 200 Mbps y una precisión de colocación de borde (EPA) de 300 ps. Es una opción ideal para probar circuitos integrados de sistemas de administración de baterías de litio (BMS), circuitos integrados de administración de energía (PMIC) y circuitos integrados de energía relacionados con GaN y SiC.

El sistema de prueba avanzado de SoC Chroma 3680 satisface eficazmente las necesidades de prueba de los chips de última generación utilizados en IA y tecnologías automotrices. El sistema proporciona hasta 2048 pines de E/S con velocidades de datos de hasta 1 Gbps, admite hasta 16 G de memoria vectorial SCAN y ofrece una variedad de módulos de prueba para que los usuarios elijan. Tiene la capacidad de realizar simultáneamente pruebas de lógica digital, unidad de prueba paramétrica, potencia, memoria, señal mixta y comunicación inalámbrica RF.

Soluciones de prueba de chips de RF

Los sistemas de prueba automatizados Chroma 3680/3380/3300, integrados con el probador RFIC modelo 35806, ofrecen una solución integral de prueba de chips de radiofrecuencia (RF) que nuestros clientes ya han validado para la producción en masa. Esta solución mejorada admite una variedad de aplicaciones que incluyen Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, así como estándares de comunicación GPS/BeiDou y Tuner & PA IoT. En particular, cuenta con un módulo VSG/VSA de ancho de banda de frecuencia ultra alta con cobertura que va desde 300K hasta 6GHz, lo que lo hace adecuado para un amplio espectro de estándares de comunicación inalámbrica emergentes.

Solución de prueba SLT Tri-Temp

Chroma 31000R-L es un sistema de prueba Tri-Temp diseñado para cumplir con los requisitos de prueba térmica más exigentes. Con capacidades de control de temperatura estable que van desde -40 °C a +150 °C y una capacidad de enfriamiento DUT (dispositivo bajo prueba) de hasta 1800 W, este sistema es una opción ideal como solución de prueba IC Tri-Temp de alta gama.

El Chroma 31000R-L se puede combinar perfectamente con modelos Chroma como 3210, 3110, 3260 y 3200, lo que proporciona una solución de prueba Tri-Temp SLT (prueba de nivel de sistema) integral adecuada tanto para entornos de laboratorio como de fábrica. La solución de prueba Tri-Temp de Chroma atiende a una amplia gama de aplicaciones de circuitos integrados avanzadas y de alta gama, incluidas automoción, inteligencia artificial y centros de datos, GPU, APU, HPC, aeroespacial y defensa. Diseñado para garantizar que los circuitos integrados funcionen perfectamente en entornos hostiles, esta es la opción óptima para las pruebas de confiabilidad del producto.

Guardián de la calidad del aislamiento para dispositivos semiconductores de potencia

Los dispositivos semiconductores de potencia (p. ej., IGBT, SiC-MOSFET) se utilizan en diversos campos que tienden a emplear alta potencia/gran corriente para circuitos de control/conversión de potencia, y los aisladores (p. ej., optoacopladores, aisladores digitales) se utilizan en entornos donde la tensión Es necesario aislar la diferencia entre dos lados (es decir, el lado primario y el lado secundario). Debido a que aparecen mayores diferencias de voltaje o diferencias de potencial entre estos componentes, es muy importante garantizar que estos componentes puedan mantener un buen aislamiento de voltaje en condiciones normales de funcionamiento y que no tengan descargas parciales (PD) continuas que puedan provocar la degradación del aislamiento. El probador de descarga parcial Chroma serie 19501 cumple con el requisito de medición de PD de IEC 60270-1 y los métodos de prueba especificados en la regulación se han diseñado en el instrumento. Puede proporcionar prueba AC Hipot (máx. 10 kVac) y medición de descarga parcial (máx. 6000 pC), lo que puede garantizar de manera efectiva la calidad y confiabilidad del funcionamiento a largo plazo para aisladores y dispositivos semiconductores de potencia.

Soluciones avanzadas de prueba de embalaje

Para procesos de embalaje avanzados, Chroma ha desarrollado equipos de inspección óptica sin contacto utilizando tecnología patentada. Chroma 7961 AOI in situ ayuda a los clientes a detectar defectos durante el proceso de fabricación, lo que permite el análisis y el control en tiempo real de la calidad de la producción. El sistema de metrología de obleas 2D/3D Chroma 7980, que presenta nuestra tecnología BLiS patentada, proporciona mediciones de dimensiones críticas (CD) 2D/3D a nanoescala. Con hardware y software optimizados para aplicaciones específicas, Chroma 7980 ya se ha utilizado en varias aplicaciones de metrología de CD 2D/3D para procesos de embalaje avanzados como TSV y RDL.

Sistema de monitorización de nanopartículas para materiales semiconductores.

A medida que aumentan las exigencias de calidad de los materiales semiconductores, la inspección y el seguimiento de los materiales se vuelven aún más críticos. El sistema de monitoreo de nanopartículas en línea SuperSizer identifica con éxito nanopartículas e impurezas de productos químicos líquidos que afectan el rendimiento de la producción, ayudando a los ingenieros de procesamiento a "ver" partículas ultrafinas en nodos tecnológicos por debajo de 20 nanómetros (nm). El proceso de medición no se ve afectado por las nanoburbujas y mide con precisión la distribución de tamaño y cantidad de partículas tan pequeñas como 3 nm, lo que permite a los usuarios controlar los riesgos y obtener una comprensión completa del rendimiento.

En SEMICON Taiwán 2023 (del 6 al 8 de septiembre), Chroma exhibirá con orgullo su diversa gama de soluciones de prueba en el stand K2776, Centro de exposiciones Taipei Nangang, pabellón 1, primer piso. También estamos entusiasmados de participar en el Foro de metrología e inspección avanzada de semiconductores, donde discutiremos soluciones de metrología innovadoras para la inspección de procesos en empaques avanzados de semiconductores. Únase a nosotros para explorar las últimas tendencias en pruebas y mediciones. ¡Esperamos conectarnos con usted!

FUENTE Chroma ATE Inc.